1短程有序結構變化(K狀態(tài))的影響K型熱電偶在250℃—600℃溫度范圍內(nèi)使用時，由于其顯微結構發(fā)生變化，形成短程有序結構，因此將影響熱電勢值而產(chǎn)生誤差，這就是所謂的K 狀態(tài)。它是Ni—Cr合金*的晶格變化，當Cr含量在5—30%范圍內(nèi)存在著原子晶格的有序無序轉(zhuǎn)變。由此而引起的誤差，因Cr含量及溫度的不同而變化。將K型熱電偶從300℃加熱 至800℃，每50℃取一點，測量該點電勢。在450℃時偏差大可達4℃，在350—600℃范圍內(nèi)，均為正偏差。由于K狀態(tài)的存在，使K型熱電偶在升溫或降溫檢定結果不一致，故在廉 金屬熱電偶檢定規(guī)程中明文規(guī)定檢定順序：由低溫向高溫逐點升溫檢定。而且在400℃檢定點，不僅傳熱效果不佳，難以達到熱平衡，而且，又恰好處于K狀態(tài)誤差大范圍。因此 ，對該點判定合格與否時應很慎重。Ni—Cr合金短程有序結構變化的現(xiàn)象，不僅存在于K型，而且，在E型熱電偶正極中也有此現(xiàn)象。但是，作為變化量E型熱電偶僅為K型的2/3?？?之，K狀態(tài)與溫度、時間有關，當溫度分布或熱電偶位置變化時，其偏差也會發(fā)生很大變化。故難以對偏差大小作出準確評價。
2熱電偶絲不均質(zhì)影響
1)熱電偶材質(zhì)本身不均質(zhì)熱電偶在計量室檢定時，按規(guī)程要求，插入檢定爐內(nèi)的深度只有300mm。因此每支熱電偶的檢定結果，確切的說只能體現(xiàn)或主要體現(xiàn)出從測量端開始 300mm長偶絲的熱電行為，然而，當熱電偶的長度較長時，則大部分偶絲處于高溫區(qū)，如果熱電偶絲是均質(zhì)的，那么依據(jù)均質(zhì)回路定則，測量結果與長度無關。然而，熱電偶絲并非 均質(zhì)，尤其是廉金屬熱電偶絲其均質(zhì)性較差，又處于具有溫度梯度的場合，那么其局部將產(chǎn)生熱電動勢，該電動勢稱為寄生電勢。由寄生電勢引起的誤差稱為不均質(zhì)誤差。在現(xiàn)有 的貴金屬、廉金屬熱電偶檢定規(guī)程中，對熱電偶的不均質(zhì)尚未作出規(guī)定，只有在熱電偶絲材標準中，對熱電偶絲的不均勻性有一定要求。對廉金屬熱電偶采用首尾檢定法求出不均 勻熱電動勢。正規(guī)熱電偶絲材生產(chǎn)廠，均按國家標準要求，生產(chǎn)出不均勻熱電動勢符合要求的產(chǎn)品。
2)熱電偶絲經(jīng)使用后產(chǎn)生的不均質(zhì)對于新制的熱電偶，即使是不均勻熱電動勢能滿足要求，但是，反復加工、彎曲致使熱電偶產(chǎn)生加工畸變，也將失去均質(zhì)性，而且使用中熱 電偶長期處于高溫下也會因偶絲的劣化而引起熱電動勢變化，例如：插入工業(yè)爐中的熱電偶，將沿偶絲長度方向發(fā)生劣化，并隨溫度增高，劣化增強，當劣化的部分處于具有溫度 梯度的場所，也將產(chǎn)生寄生電動勢疊加在總熱電動勢中而出現(xiàn)測量誤差。作者在實踐中發(fā)現(xiàn)有的熱電偶經(jīng)計量部門檢定合格的產(chǎn)品(多為廉金屬熱電偶)到現(xiàn)場使用時卻不合格。再 返回到計量部門檢定仍然合格，其中主要原因就是偶絲不均質(zhì)引起的。生產(chǎn)熱電偶的技術人員都切身體會到，熱電偶的不合格率也隨其長度的增加而增加。皆是受熱電偶絲材不均 質(zhì)的影響?？傊?，由不均質(zhì)即寄生電動勢引起的誤差，取決于熱電偶絲自身的不均質(zhì)程度及溫度梯度的大小，對其定量困難。
●壓簧式感溫元件，抗振性能好；
●測量精度高；
●機械強度高，耐壓性能好；
●進口薄膜電阻元件，性能可靠穩(wěn)定；
工作原理
熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出阻值所對應的溫度值。
